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HOME > LVEM25 卓上 低電圧電子顕微鏡 Delong America

LVEM25 卓上 低電圧電子顕微鏡 Delong America


      Delong America
       デロング アメリカ

LVEM25 卓上 低電圧電子顕微鏡 TEM STEM ED




 

LVEM25は、コンパクトなフォームファクタと妥協のない機能をシームレスに融合するように設計された、高速でコンパクトで強力な透過電子顕微鏡です。

この顕微鏡は、独特のLVEMの技術的特徴とより強力な電子ビーム透過性とを併せ持っており、
従来準備された試料を画像化することができます。
 
LVEM25はコンパクトなので、どんなサイズのラボにも設置でき、誰でも操作できるように簡単に操作できます。
LVEM顕微鏡の最高の画像分解能、複数のイメージングモード、コンパクトなデザインにより、
LVEM25は病理学、ウイルス学、ドラッグデリバリーの分野ですでに使用されています。

 

特徴

イメージングモード

LVEM25は、高コントラスト、高スループット、ナノメーター分解能のコンパクトなイメージングソリューションを提供し、無制限で低電圧顕微鏡の利点をすべて備えています。LVEM25は、透過型電子顕微鏡(TEM)、走査透過型電子顕微鏡(STEM)、さらに電子回折(ED)を含む独自のを備えた強力な3-in-1電子顕微鏡です。そのマルチモーダルイメージング機能と、サンプルの移動やカラムの再配置を行わずにイメージングモードを切り替える機能は、LVEM25は包括的なイメージングツールになります。

イメージングモード

TEM、ED、STEM

TEM

 

加速電圧

25kV

解像度

1.0nm

倍率

1,127〜430,743×

視野

100〜0.25μm

ELECTRON DIFFRACTION

 

プローブの最小サイズ

500 nm 

STEM 15

 

加速電圧

15kV

解像度

1.3nm

最大倍率

375,000×

最大視野

80×80μm

STEM 10

 

加速電圧 

10kV

解像度

1.0nm

最大倍率

470,000×

最大視野

105×105μm

 

技術的特徴


Lvem 25フォームファクタ
   LVEM25は、電子顕微鏡が必要なあらゆる場所に設置できる多目的な製品です。
        これは最も必要な場所に収まるように設計されており、シームレスな作業環境を作り出します。


目的自動粗調整
        LVEM25のZ軸はモーター駆動されており、コントロールパッドとソフトウェアによりサンプルの高さを制御できます。
       さらに、Z軸の位置は自動で高さ調節がされ、焦点の粗調整が行われます。


虫眼鏡ステージ位置記録
       ピエゾアクチュエータは現在位置を記録することができ、
  これによりユーザーはソフトウェア上でトレースするだけでなく、
       ソフトウェアの関心領域をマークすることができます。これらの位置は後で呼び出すことができます。


ポンプダイアグラム付きターボ分子ポンプ
        エアロックシステムポンプにより迅速かつクリーンなサンプル交換を保証します。
        また自己排気システムにより、迅速なサイクルタイムが可能になります。


ポンプ23イオンゲッターポンプ
       これらのポンプは、汚染されることのない試料室を確保し、常に安定した画像環境を提供します。


光線銃25KV フィールド エミッション ガン

 

  フィールドエミッションガン(FEG)は、非常に高い輝度と空間的コヒーレンシーを備えた低電圧ショットキータイプ
  です。これは、電子と試料との間の強い相互作用を可能にします。FEGの予想最低寿命は約2,000時間です

 


画面YAGスクリーン

  高解像度の最終TEM画像は、電子ビームを介してYAGスクリーンに投影されます。
  光学系が引き継がれてコンピュータ画面上に画像が生成されます。


マニピュレータマニピュレータ
  完全電動式マニピュレータを使用すると、サンプルをカラム内で簡単かつ正確に再配置でき、
  サンプル全体のイメージングが可能になります。



コントロールパネルコントロールパネル

  イメージングは​​、イルミネーション(サンプルを明るくする)、ビーム補正(ビーム精度)、
  倍率
(最大1.0nm分解能)、ステージ移動(ピント・オブ・フォーカス)の調整を可能にします。
  直感的で快適なコントロールを備えています。

 

LVEM25の主要アプリケーション

LVEM25は薄く切った材料で作業するラボに適しています。従来用意されている薄い断面の材料で作業する能力があります。
病理学病理学研究

  病理学の分野の研究者は、造られた著しく高いコントラストの画像によって恩恵を受けています。
  詳細な画像は、腎疾患、筋肉障害、毛様体機能障害、神経学的障害およびウイルス感染症のような疾患の診断に
  役立ち、様々な組織における超微細構造病理変化の分析を可能にします。

  LVEM25が病理研究のアプリケーションでどのように使用されているかについては、
  こちらをクリックしてください。


ナノ粒子ナノ粒子評価
  ナノ粒子のキャラクタリゼーションにおいて重要な研究を行っているラボでは、LVEM25は粒子のサイズや数分布、
  粒子の形状、表面の形態、フィラメントの形態などの必要な詳細を提供することが不可欠なツールです。

       アプリケーションでのLVEM25の使用方法の詳細についてはこちらをクリックしてください。


ポリマー高分子研究

  ポリマーの研究では、低エネルギー電子源によってもたらされる超高コントラストのために、ポリマーの分子組成に
  起因する低コントラスト イメージングはLVEM25に関する限り問題ではない。
  LVEM25はナノ構造ポリマーの理解に役に立ちます。 

  この分野の応用をもっとご覧になりたい方はこちらをクリックしてください。


細胞生物学細胞生物学
  細胞生物学の研究者が電子顕微鏡を使用する理由は細胞内の組織、機能、性質を理解するためです。
  
オルガネラの位置および組織、細胞骨格内のアクチンフィラメント、および核細孔などの分子複合体に対する
  より良い理解を提供することができます。従来のTEMよりも高いコントラスト画像を提供します。

  この分野での応用をもっとご覧になりたい方は、こちらをクリックしてください。
 

技術とデザイン

銃フィールド エミッションガン
      独自に設計された25kVのショットキータイプのFEG(電界放出ガン)は、LVEM25で採用されており、
    数千時間の寿命で非常に高い輝度と空間コヒーレンスを備えています。
      電子銃の高輝度で小さな仮想源は、単一の計測器で透過モードと走査モードを可能にします。


真空イオンゲッターポンプ:クリーン真空、クリーンコラム、きれいな画像
  イオンポンプは本質的に乾燥しており、振動がなく、非常に高い真空レベルを達成します。
  特別に設計されたイオンゲッターポンプを使用することにより、
       LVEM25はサンプル空間内のすべての汚染を避け、
       安定した撮像条件とアーティファクトが存在しません。


磁石永久磁石レンズ:冷却不要
  LVEM25は冷却することなく動作するように設計されています。
  従来の電子顕微鏡では、磁場レンズ内を循環する電流によって発生するかなりの熱を
  除去するために能動冷却が必要とされていました。しかし、LVEM25で使用されている
  ユニークな設計の永久磁石レンズは冷却を必要としません。


眼透過型電子顕微鏡:インライン、2ステージ光学プラットフォーム
  電子光学系は、初期画像がYAGシンチレータスクリーン上に形成され、倍率がカチオンの初期段階を提供します。
  安定した信頼性の高い光学系は、YAGスクリーンからの初期画像をさらに拡大します。
  蛍光スクリーンから光学系への光輸送は非常に効率的です。
  デジタルイメージングは、LVEM25の上部に取り付けられた2560x2160ピクセルのTE Cooled Scientific CMOSカメラを
  使用して行われます。
  画像キャプチャ ソフトウェアは、高性能の画像データの取得、文書化、および分析用に設計されています。
  加算、ライブFFT、自動コントラスト調整など、様々な画像処理が可能です。

 

LVEM 25 テクノロジーとデザイン 商品の紹介動画はこちら   

 


 

 

Field Emission Gun : 電界放出電子銃

LVEM 25によって採用された独自設計のショットキー型FEG(電界放射銃)は、数千時間の寿命を持ち、非常に高輝度で高い空間コヒーレンスを有しています。電子銃の高輝度で小さな仮想電子源が、一台の機器で透過モードとスキャンモードを可能にしています。
 

イオン ゲッターポンプ : クリーン真空、クリーン カラム、クリーン イメージ

イオンポンプは、本質的にドライで振動がなく、非常に高真空レベルを達成します。この特別に設計されたイオンゲッターポンプを利用することで、LVEM 25は、サンプル空間内のすべての汚染を回避し、安定した撮影条件をもたらし、どんなアーチファクトも存在しません。
 

永久磁石レンズ

LVEM25は冷却なしで動作します。従来の電子顕微鏡では、電磁レンズの中を循環する電流によって発生する大量の熱を除去する冷却が必要でした。LVEM 25で使用されている独自のデザインの永久磁石レンズは冷却不要です。

 

透過型電子顕微鏡 TEM :インライン、2ステージ光学プラットフォーム

電子光学系は、初期イメージがYAGシンチレータスクリーン上に形成された倍率カチオン(陽イオン)の初期段階を提供します。

安定、高信頼性の光学系は、YAGスクリーンの初期イメージをさらに拡大します。蛍光スクリーンからの光伝送は高効率。


デジタル イメージングは、LVEM25の上部に取り付けられた、2560×2160ピクセルTE冷却サイエンティフィックCMOSカメラによって行われます。画像キャプチャ ソフトウェアは、取得、ドキュメント、および高性能画像データの解析のために設計されています。各種画像処理手順は、加算、ライブFFTと自動コントラスト調整など可能です。

Product TOUR

 

LVEM 25  透過型電子顕微鏡 TEM

 

透過型電子顕微鏡(TEM)は、薄片試料を電子ビームが通過します。
LVEM25のTEMモードの顕著な利点は強化されたコントラストです。透過型電子顕微鏡の高倍率画像は、入射ビームが電子として、試料の小さな領域を構成する原子によって差動的に散乱し、電子光学経路で導かれ、シンチレーターとカメラで光学イメージに変換します。TEM分析の試料は超薄型バルク材料の薄片、ナノサイズ粒子または薄膜上に堆積したフィラメントです。

LVEM25は25kVで動作する低電圧透過型電子顕微鏡です。電子散乱が増加しTEM画像に大きなコントラストをもたらします。

LVEM25は、従来から使用されている約200nmの薄片試料で作業が出来ます。


 

コントラスト向上のメリット

・コントラストの向上 - 密度差の下限しきい値
・重金属の染色無しで試料の可視化 (高電圧では解決出来なかった)
・アーチファクト回避  染色に依ってもたらされる非存在構造

LVEM25は、ベンチトップの利便性と高度な画像処理を組み合わせた、LVEM5の革新的なプラットフォーム上に構築され、低電圧電子顕微鏡の次世代製品です。最終的な画像の分解能は、TEM-BOOST (0.07対0.18nm/pix) を装備したLVEM5に比べ、LVEM25は2倍優れています。

 

主な応用分野

病理学
生物学
ナノ粒子
ポリマー サイエンス



超高コントラスト、明るさ、高いコヒーレント電子ビームはTEMの質の改善が観察されます。通常コントラストを上げる目的の染色はLVEMでは不要です。

LVEMは卓上型では唯一の透過型電子顕微鏡(TEM)です。LVEM25は設置のために、専用設備を必要としません。特別な電源、冷却は不要です。防振も通常は不要です。
 

動作電圧

25kV

分解能

1.0nm

最終画像分解能

0.07nm / pixcel

倍率範囲 (nominal image 3 ¼ x 4")

1,127x - 430,743x

最大イメージ キャプチャー サイズ

2560 x 2160

電子源                 (FEG)

フィールド エミッション ガン

モーター駆動ステージ

スタンダード (x,y,z 軸)


LVEM25 電子顕微鏡
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LVEM 25  走査型透過電子顕微鏡 STEM

STEMイメージは、TEMと異なり、同時に電子ビームにフラッドされるのとは対照的に、ビームは最終的に狭いプローブと試料を横切るようにスキャンし集光します。この技術は、特に厚い、染色した試料に有効です。
 

動作電圧

10, 15 kV

分解能 10 kV
    15 kV

1.0 nm
1.3 nm

最大倍率 10 kV
                  15 kV

375.000x
470,000x

イメージ キャプチャー サイズ

512 x 512
1024 x 1024
2056 x 2056

電子源         FEG

フィールド エミッション ガン

モーター駆動ステージ

スタンダード (x, y, z 軸)


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LVEM 25  電子回折 ED

 

LVEM25における電子回折パターンは、結晶性または部分結晶性材料(セラミック、金属またはポリマー)の薄い試料に対して得られます。単結晶又は高度にテクスチャ化薄膜は、ドットパターンを生成しながら、多結晶領域は、環状の回折パターンを生成します。

パターン(リングまたはドットと個々のリングの相対強度との間の距離)の設定は、分析材料に見出すことができる特定の結晶相の特徴です。

LVEM5における回折モードがTEMモードから簡単にアクセスし、取得したパターンは、特定の領域または試料中に存在する機能(粒、粒子、フェーズ)に起因します。取得された回折パターンのその後の分析は、試料の結晶化度及び相組成の程度を結晶構造に関する情報を提供することができます。

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LVEM 25  3イメージング モード

 

LVEM25には、3種類の異なるイメージング モードがあります。

LVEM25のマルチ モーダル イメージング機構は真に包括的なイメージング ツールです。3 - in - 1の電子顕微鏡で透過型電子顕微鏡 (TEM) 、走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 、さらに電子回折 (ED) .

試料の調整不要、カラム調整しないでモード切替が出来ます。

 

LVEM 25  特徴  

 

LVEM25は、ナノメートルの解像度と高コントラスト、高スループット、およびコンパクトなイメージングソリューションを提供しています。

低電圧、制限なしのすべての利点

LVEM25は、伝送TEMとSTEM観察モードを組み合わせたユニークな調査ツールです。実質的に、従来のTEM(典型的には80から200キロボルト)以上(25キロボルトから10キロボルトの範囲)より低い加速電圧は、従来作製した試料の光素子に実質的に改善されたコントラストを提供します。低電圧は、染色を必要とせずに、増加した電子の散乱と、生物学的な有機光材料の造影をもたらします。

低電圧、制限なしのすべての利点

LVEM 25は、従来のモデルとは異なるアーキテクチャを採用しています。これは、デスクトップまたはベンチトップに、ラボでインストールすることができます。ほとんどどこでも電子イメージングが必要とされています。

システムは、さらに、モバイルワークステーションとして供給することができます。システムは、特別な設備の要件、暗い部屋、冷却水、または特別な力を必要としません。このシステムの所有権と保守が大幅に簡素化されます。


これらの画像では、微小管の画像化の結果が比較されています。
左の古典的なTEMサンプルは染色されていますが、LVEM5は染色されていません。
LVEM5の結果は、微小管の電子密度または質量暑さの真の画像を提供します。


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LVEM 25  ソフトウエア

 

スクリーンショット
   
                              ライブFFT
 

LVEM25 ソフトウエア

LVEM25は、直感的なユーザソフトウェアインタフェースを介して制御されます。すべての重要な顕微鏡パラメータのモニタリングや調整を可能にします。ソフトウェアを介して、すべての撮影モードとの間でシームレスに切り替えることが可能です。ソフトウェアはまた、LVEM25の操作コンソールの機能の大部分を複製、仮想キーボードとして機能することができます。すべてのモードでの画像取得もLVEM25ソフトウェアによって行われます。TEM取得モジュールは、ライブ映像やデジタルカメラ変数を完全に制御するためのFFTとスケールバーの表示が含まれています。



 

デジタル イメージング

Andor Zyla 5.5 サイエンティフィックCMOSカメラをしています。LVEM25のための高速、高感度イメージング性能、コンパクトTE冷却のカメラを採用しています。

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LVEM 25  仕様

 

OPERATION

Specimen size standard ф 3.05mm grids

Time for sample exchange approx 3 min

IMAGING MODES

TEM

Nominal accelerating voltage  25 kV

Resolving power 1.0 nm

Total magnification* 1,127–430,743×

Field of view 100–0.25 µm

The smallest illuminated area 100 nm

Focal length 1.34 mm

Cs (spherical aberration coefficient)  1.03 mm

Cc (chromatic aberration coefficient) 1.05 mm

αtheor (theoretical aperture angle) 1.2×10-2 rad

* nominal (image 3¼×4")

   

ELECTRON DIFFRACTION

Minimum probe size 500 nm  

Camera length (binning 2×2)  2,000–7,000 pxl

Camera constant (binning 2×2)  15.51–54.28 pxl×nm

   

STEM 15

Nominal accelerating voltage  15 kV

Resolving power 1.3 nm

Maximum magnification 375,000×

Maximum field of view  80×80 μm

Focal length 0.95 mm

Cs (spherical aberration coefficient)  0.80 mm

Cc (chromatic aberration coefficient) 0.85 mm

αtheor (theoretical aperture angle) 1.4×10-2 rad

   

STEM 10

Nominal accelerating voltage  10 kV

Resolving power 1.0 nm

Maximum magnification 470,000×

Maximum field of view 105×105 μm

Focal length  0.75 mm

Cs (spherical aberration coefficient)  0.64 mm

Cc (chromatic aberration coefficient) 0.72 mm

αtheor (theoretical aperture angle)  1.6×10-2 rad

   

LIGHT OPTICS

Objective Olympus M 40x  NA* 0.95

Objective Olympus M 20x  NA* 0.75

Objective Olympus M 4x NA* 0.13

*numerical aperture  

   

   

ELECTRON OPTICS

CONDENSER LENS magnetostatic

  electrostatic

Condenser aperture  Ф 50, 50, 30 μm

OBJECTIVE LENS  magnetostatic

Objective aperture  Ф 50, 50, 30 μm

PROJECTION LENS electrostatic

  double lens

ELECTRON GUN SE Cathode ZrO/W[100]

Current density 0.3 mAsr-1

Lifetime >2,000 hours

   

TEM IMAGE CAPTURE

Camera Scientific CMOS

Sensor Size 2560x2106 pixels

Digitalization 12 bit and 16 bit

Pixel Size 6.5 × 6.5 μm

Read Noise 1.2e

   

SCAN IMAGE CAPTURE

Monitor  (512×512, 1024×1024, 

  2048×2048)

Saving image up to 2048×2048 pixels

Digitalization  8 bits

   

VACUUM

AIRLOCK SYSTEM  

Diaphragm and turbomolecular pump 10-5 mbar

OBJECT SPACE  

Ion getter pump 10-8 mbar

ELECTRON GUN  

Ion getter pump 10-9 mbar

   

CONSUMPTION

Control electronics in standby  25 VA

Control electronics 350 VA

Including airlock pumping system 550 VA

Camera 24 VA

PC and monitor 500 VA

No cooling water for the microscope is required  

   

WEIGHTS AND DIMMENSIONS

ELECTRON AND LIGHT OPTICS  

Weight 80 kg

Dimensions 106×63×61 cm

CONTROL ELECTRONICS  

Weight  80 kg

Dimensions  110×63×67 cm


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LVEM25 Gallery

LVEM 低電圧電子顕微鏡の比較

サイズ比

 

コントラストの比較



サンプル比較


コストの比較

LVEMの技術は古典的な電子顕微鏡を越えています。基本モデルは古典的な電子顕微鏡の約1/5の価格です。
LVEMは、冷却水、無抗振動機構、無電界キャンセル機器、特別な電子機器を必要としません。標準の100Vコンセントに差し込むだけです。それはデスクトップに収まるという事実は、専用の部屋や高価な改修は不要です。


 

 

LVEM 5

LVEM 25

従来のTEM

Operating Modes

TEM, STEM, SEM, ED

TEM, STEM, AND

HAS

Contrast with Unstained Samples

High

High

Low

Operating Voltage

5kv

10, 15, 25kv

80-300kv

Electron Source

Field Emission Gun (FEG)

Field Emission Gun (FEG)

Tungsten or TEC

Resolution

HAS resolution

Base - 2nm
   Boost - 1.2nm

1.0nm

Less than 2nm

Final TEM Image Resolution

Base - 0.65nm/pixel
   Boost - 0.18nm/pixel

0.07nm/pixel

 

Installation

Location

Desktop, lab bench

Desktop, lab bench, mobile cart

Dedicated room

Electrical

Standard plug

Standard plug

Dedicated HV source

Cooling Water

No cooling water used

No cooling water used

Water required : 0.2-0.6 Mpa

Compressed Air

No compressed air used

No compressed air used

Compressed air required: '4-6 Atm

Airlock Pump Down

3 minutes
  (miniature column)

3 minutes
  (miniature column)

Longer 
  (column size dependant)

Weight

50 lbs

200 lbs

1,609 lbs

Size

2 ft by 2 ft

3 ft by 2 ft

7 ft by 8 ft

Operations

 

Straightforward

Straightforward

Complex

 

Whole-group use

Whole-group use

Dedicated operator

 

Student friendly

Student friendly

 

Suitable Samples

 

Nanoparticles

Nanoparticles

Nanoparticles

 

Unstained polymer sections

Stained biological sections

Stained biological sections

 

Unstained biological sections

Stained polymer sections

Stained polymer sections

 

Powders

Unstained polymer sections

Nanotubes

 

Fibers

Unstained biological sections

 

 

Nanotubes

Powders

 

 

Bulk materials

Fibers

 

 

Phages

Nanotubes

 

 

Viruses

Bulk materials

 

 

 

Phages

 

 

 

Viruses

 

Section Thickness

 

20 - 50 nm. TEM

80+ nm. TEM

80+ nm TEM

 

20 - 80 nm. STEM

80+ nm. STEM

80+ nm. STEM

Sample in vacuum

Yes

Yes

Yes

Cost

Benchtop price

Benchtop price

$ 500,000 - 2,000,000Tasu



 

 

LVEM 5

従来ベンチトップ SEM

Operating Modes

TEM, STEM, SEM, ED

SEM only

Sample Coating

Beneficial

Beneficial

 

but not required

but not required

Operating Voltage

5kv

1-30kv

Electron Source

Field Emission gun (FEG)

Tugsten filament

Installation

 

 

Location

Desktop, lab bench

Desktop, lab bench

 

 

 

SEM Resolution

3 nm

Not under 100nm

Suitable samples

Nanoparticles

Bulk materials

 

Unstained polymer sections

Fibers

 

Unstained biological sections

Powders

 

Powders

 

 

Fibers

 

 

Nanotubes

 

 

Bulk materials

 

 

Phages

 

 

Viruses

 

 

 

 

Sample in vacuum

Yes

Model dependant

Cost

Benchtop price

Benchtop price


 

LVEM5  アクセサリ ELMO グロー放電システム




TEMカーボンの支持膜は疎水的な傾向があります。
空気とグロー放電処理は、水溶性の吸着を可能にし、負に荷電し親水性カーボン膜の表面を作ります。

親水性または疎水性、負または正電荷
特定のガス雰囲気でのグロー放電処理は、拡散するソリューションの吸着を最適化するために、
TEM支持フィルムまたはグリッドの表面特性を変更します。


 

Viral Capside Deposited Without Glow Discharge                    Viral Capside Deposited With Glow Discharge

      


ELMO グロー放電システム 詳細はこちら

LVEM5 チルト ホルダー  オプション

 

LVEM5透過型電子顕微鏡(TEM)モードでは、電子断層撮影を行うために、オプションの傾斜(チルト)ホルダーと組み合わせて使用することができます。これは、2D画像から詳細な3D構造を得るための技術です。プロセスにおいて、電子ビームは、ターゲットのサンプルの中心周りの回転角度の増分でサンプルを通過します。この情報は収集され、ターゲットの三次元画像を組み立てるために使用されます。

 
さらに、LVEM5走査型電子顕微鏡(SEM)モードでは、写真測量を行うために、オプションの傾斜ホルダーと組み合わせて使用することができます。この技術は、BSE検出器に対して異なる角度で保持されたサンプルから取得した2次元画像から3次元形状情報を抽出することを含みます。
 
LVEM5用傾斜ホルダーは、異なる視点からの様々な異なるサンプルのタイプの分析を可能にし、サンプルの3次元画像の再構成を可能にします。

 

主な仕様

傾斜 ±22.5º 

対応  TEM, SEM,STEM モード

 

チルト(傾斜)ホルダー オプション

LVEM5 AFMチップ ホルダー

 

LVEM5電子顕微鏡は、ほとんどのAFMチップのイメージング用のAFMチップホルダー(オプション)と組み合わせて使用することができます。これは、AFMチップの品質とデザインに関する詳細な情報を得るための迅速な手法です。原子間力顕微鏡(AFM)は、サンプル表面をスキャンするために使用される鋭い先端(プローブ)を有するカンチレバーに依存します。AFMチップは、一般におよそ数ナノメートルの曲率半径を有しています。
 
先端がサンプル表面に接近するとき、先端とサンプル間の力がカンチレバーの振れになります。測定可能な力には、機械的な接触力、ファン・デル・ワールスの力、、毛管力、化学結合、静電気力、磁気力などが含まれます。AFMプローブの性質が、測定された力だけでなく、顕微鏡の最終感度を決定します。
 
 
先端形状やシャープネスは、TEMおよびSEMの両方のモードで簡単に測定することができます。迅速な試料交換と、この汎用性により、AFMプローブの製造に伴う品質保証検査には強力な利点になります。
 
化学的および生物学的にコーティングされたAFMチップ、またはナノ粒子やリガンドなどの粒子付着のAFMチップのようなカスタムAFMチップは、簡単に画像化することができます。さらに、LVEM5による低電圧イメージングでは、機能性AFMチップに使用される柔らかい材料(ポリマー、生物学的材料)の極めて高いコントラストが得られます。

 

 

SEM イメージ
    
 

TEM イメージ

    
 

Key Specifications

Maximum substrate size 4.0mm x 2.0mm x 0.45mm

Compatible with TEM and SEM

 

LVEM 25 ギャラリー

適切なコントラストは、高電圧電子顕微鏡にとって永続的な課題です。
これらの顕微鏡に何かを見えるようにするには、通常、重金属染色が必要です。
染色はそのコントラストを加えることができるが、サンプルの損傷およびアーチファクトの出現にも寄与します。
しかしLVEM25 ベンチトップTEMでは染色は必要ありません。

LVEM25  詳細はこちらをクリックしてください。

                                                         
 

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